Synthése d'empilements de couches minces

On décrit une méthode qui permet, avec l'aide d'un ordinateur, de déterminer les caractéristiques d'un empilement de couches minces diélectriques présentant des propriétés optiques imposées à l'avance. Par approximations successives, on améliore un « coefficient de mérite ». Les premières itérations sont effectuées avec un nombre réduit de paramètres libres, par exemple en imposant à plusieurs groupes de couches d'avoir la même épaisseur optique; les paramètres sont ensuite libérés progressivement. Cela permet de dépister les solutions intéressantes tout en maintenant la durée des calculs dans des limites raisonnables. Pour simplifier la réalisation expérimentale (qui fera l'objet d'un article ultérieur) on n'utilise que des matériaux aisément évaporables; les seuls paramètres ajustables sont donc les épaisseurs. Quelques résultats concernant des revêtements réflecteurs achromatiques sont présentés.